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강화유리물성분석기
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유리 두께 측정기
Thickness measuring system
/ Xper-IP Mini

광간섭법(Optical interferometry) 기법을 사용한 비접촉 유리 두께 측정기입니다. 유리 뿐만 아니라 투명한 물체의 두께를 측정할 수 있습니다. 144.5mm(W) x 90mm(D) x 37mm(H)의 크기로 작지만 놀라운 성능을 발휘합니다.

주요특징
  • 절대두께측정 정확도: ±0.2% in full scale
  • 탁월한 장기 측정 재현성: ±0.003% in full scale
  • 다층면을 동시에 분석
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규격 

1. Resolution (Z): 10nm

2. Accuracy (Z): ±0.2% in full scale

3. Standoff distance: up to 150mm from objective

4. Measurement range (Z): 0.03mm ~ 1.2mm

5. Measurement speed: 100Hz

6. Laser source: 840nm SLD (SLD controller included)

 

7. Grating: 1,200 lpmm transmission grating(spectral range / grating rotation: 810~910nm)

 

 

Application 

1. Semiconductor: Wafer, Si for PV panel

2. Flat Panel Display: TFT-LCD, AM-OLED, Diamond-like carbon, High-functional file

3. Films and Polymers: Optical film, Medical polymer materials









 

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